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Updated: Jul 17, 2025

Atom Probe Tomography Analysis of Exsolved Mineral Phases
Published on: October 25, 2019
由于电子探针微分析中缺少边界光的元素耗尽:在奥利文中Ni的案例
Xavier Llovet1, Maxim Gavrilenko2,3, Valentina G Batanova2
1Scientific and Technological Centers, Universitat de Barcelona, Lluís Solé i Sabarís, 1-3, 08028 Barcelona, Spain.
在电子探针微分析 (EPMA) 中的二次光 (SF) 可以降低相位边界附近的元素度,而不仅仅是增强它们. 这项研究量化了这种意想不到的橄素枯竭效应,影响了微量元素分析.
科学领域:
- 地质化学 地质化学
- 分析化学 分析化学
- 材料科学 材料科学 材料科学
背景情况:
- 二次光 (SF) 是电子探针微分析 (EPMA) 中已知的分析工件.
- 通常,当相邻相具有高分析物度时,SF会在相位边界附近引起度增强.
- 在很大程度上忽视了SF导致度下降的潜力.
研究的目的:
- 调查和量化二次光 (SF) 对接近相位边界的元素度测量的影响.
- 为了证明SF可以导致度下降,模仿元素枯竭.
- 分析SF对 (Ni) 度概况在玄武玻璃中的橄石粒中的影响.
主要方法:
- 使用EPMA对嵌入在玄武岩玻璃中的同质橄石粒中Ni度概况的实验分析.
- 实验数据与半分析计算和SF的数值模拟进行比较.
- 研究跨相界和不同粒径的SF效应.
主要成果:
- 观察到含量的持续下降随着距离界面或橄中谷粒半径的减少.
- 与预期的Ni度的偏差在界面的10μm内达到约2-5%.
- 这种下降归因于与标准相比,从样本中发出的较低的bremsstrahlung光.
结论:
- 二次光可以导致度下降,而不仅仅是增加,接近EPMA的相位边界.
- 这种效应可能被误解为元素枯竭,导致分析错误.
- 这些发现强调了考虑SF效应对于精确的微量和小元素分析在像橄素这样的异质样本中的重要性.
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