由于电子探针微分析中缺少边界光的元素耗尽:在奥利文中Ni的案例

Xavier Llovet1, Maxim Gavrilenko2,3, Valentina G Batanova2

  • 1Scientific and Technological Centers, Universitat de Barcelona, Lluís Solé i Sabarís, 1-3, 08028 Barcelona, Spain.

概括

在电子探针微分析 (EPMA) 中的二次光 (SF) 可以降低相位边界附近的元素度,而不仅仅是增强它们. 这项研究量化了这种意想不到的橄素枯竭效应,影响了微量元素分析.