评估高强度同步子辐射X射线成像使用Si晶体的高强度同步子辐射X射线成像,其表面在33.3 keV的电压下进行覆

Chika Kamezawa1,2, Kazuyuki Hyodo1,2

  • 1Photon Factory, Institute of Materials Structure Science, KEK (High Energy Accelerator Research Organization), Ibaraki 305-0801, Japan.

PubMed
概括

化晶体显著提高动态成像的X射线强度. 这种方法提高了对比度和噪声比率 (CNR),用于观察样本内部,这对于同步射线微血管学至关重要.