模拟使用珀林噪声在斑点的存在下进行激光分析仪测量
Sara Roos-Hoefgeest1, Mario Roos-Hoefgeest2, Ignacio Álvarez1
1Department of Electrical, Computer Electronics and Systems Engineering, University of Oviedo, 33003 Oviedo, Spain.
Sensors (Basel, Switzerland)
|September 9, 2023
概括
这项研究开发了一种新型模拟,用于高分辨率的配置测量传感器检查系统. 模拟准确地模拟传感器运动和噪声,减少开发成本和制造质量控制的时间.
科学领域:
- 制造业 工程 制造工程
- 计量学 计量学 计量学
- 计算机辅助设计 (CAD)
背景情况:
- 检查系统对于制造业的产品质量至关重要.
- 高分辨率的配置测量传感器提供了详细的表面数据,但系统开发是昂贵的.
- 模拟这些系统可以加速开发并降低成本.
研究的目的:
- 为使用高分辨率的配置测量传感器的检查系统开发成本高效和时间高效的模拟.
- 创建适用于各种传感器和零件的多功能几何和噪声模型.
- 为了验证模拟的准确性与现实世界的传感器数据.
主要方法:
- 在CAD模型上复制传感器运动的几何模型.
- 实现了一个噪声模型,将Perlin噪声 (用于斑点) 和Gaussian噪声 (用于传感器不确定性) 结合起来.
- 基于检查部分的表面粗度参数生成的Perlin噪声.
主要成果:
- 该模拟准确地复制了不同部位的真实扫描.
- 该模型有效地结合了传感器规格和部分CAD数据.
- 结合Perlin和Gaussian噪声的噪声建模方法被证明是有效的.
结论:
- 开发的模拟系统可以准确预测profilometric传感器读数.
- 这种模拟工具提供了一种可行的解决方案,可以减少检查系统开发的成本和时间.
- 噪音建模策略是一个关键的贡献,提高模拟准确性.
