Yehuda Ben-Shabo1, Adeliya Kurbanov1, Claus Dieter Schröter2

  • 1Department of Physics and Institute of Nanotechnology and Advanced Materials, Bar-Ilan University, Ramat-Gan 5290002, Israel. yonitoker@gmail.com.

概括

本研究介绍了无偏差速度图像成像 (VMI) 的分析推导. 这种技术增强了带电粒子的动能测量,使反应显微镜等先进仪器能够进行精确的分析.

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