Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
Reducing Line Loss
Phase Contrast and Differential Interference Contrast Microscopy
Biasing of FET
Transmission Line Design Considerations
MOSFET: Enhancement Mode
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这项研究引入了一种新的方法,使用矩形槽来减少多模干扰 (MMI) 合器的相位误差. 这种技术提高了基于MMI的光学分离器的性能,提高了信号保真度.
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