在背侧前额皮层中TMS唤起的潜力的可靠性

科学领域:

• 神经科学是一个神经科学.
• 神经成像是一种神经成像.
• 大脑刺激 大脑刺激

背景情况:

• 缺乏用于探测人类背侧前额皮层 (dlPFC) 皮层刺激性的非侵入性方法.
• 单脉冲跨脑磁性刺激 (TMS) 唤起的潜能 (EL-TEPs) 在dlPFC子区域中显示可变的振幅.
• 整个dlPFC的EL-TEP的可靠性仍然是未知的.

研究的目的:

• 评估 EL-TEP 在 dlPFC 的可靠性.
• 为了确定可靠EL-TEP测量的最佳分析参数.
• 确定可靠EL-TEP检测的最低试验数.

主要方法:

• 在15名健康受试者中,dlPFC EL-TEPs的量化会话内可靠性.
• 在一次脉冲TMS后评估了TMS唤起的潜力到六个dlPFC次区域.
• 评估了跨目标,时间窗口,量化方法和试验数量的一致性相关系数 (CCC).

主要成果:

• 中等dlPFC目标产生了最可靠的EL-TEP (CCC=0.78).
• 较长的 (20-60 ms) 和较晚的 (30-60 ms) 时间窗口提高了可靠性.
• 峰值对峰值量化和仅25个试验导致了可靠的EL-TEP.

结论:

• 介质TMS位置,更宽的时间窗口和峰值到峰值量化提高了EL-TEP的可靠性.
• 高度可靠的EL-TEP可以通过最小数量的试验从dlPFC中提取.
• 优化的参数使得dlPFC研究可靠的EL-TEP测量.