在FIB的TEM样本准备过程中,LIPON和LCO之间的接口的稳定性
Aram Rezikyan1, Cameron Tanner2, Brian Berland3
1Characterization Sciences Department, Corning Research and Development Corporation, 21 Lynn Morse Dr, Painted Post, NY 14870, USA.
概括
薄膜微型电池中氧化 (LIPON) 和氧化 (LCO) 接口的无形接口是聚焦离子束 (FIB) 样本制备的工件,而不是电池操作的结果.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 电化学 电化学 电化学
- 电池技术 电池技术
背景情况:
- 在离子TFMB中,LIPON固体电解质和LCO阴极之间的无形界面经常被报告.
- 这些介面相的起源及其对电池性能的影响仍然不清楚.
研究的目的:
- 为了研究LIPON/LCO界面上的无形间相的形成机制.
- 为了确定间相是否是样品准备的内在特征或工件.
主要方法:
- 在FIB提升期间进行现场SEM成像,用于TEM样本准备.
- 在各个准备阶段对LIPON/LCO接口的全面描述.
主要成果:
- 无形间相是在FIB叶片制备过程中形成的,当LIPON层断开连接时.
- 在现成接口中或在没有FIB处理的情况下的电池运行后,没有观察到这种人工接口.
- 由FIB诱导的间相形成的微妙性质可能导致误解.
结论:
- 在LIPON/LCO接口上报告的无形间相是FIB样本准备的工件.
- 对于准确的电池分析,区分内在电池接口现象和制备引起的工件至关重要.


