一种用于死时间校准的新方法,以及用于微分析的WDS强度校正的新表达式

科学领域:

• 分析化学 分析化学
• 材料科学 材料科学 材料科学
• 频谱学是一种光谱学.

背景情况:

• 电子探针微分析 (EPMA) 中的精确量化受到探测器死亡时间效应的阻碍,特别是在高计数率下.
• 现有的校准方法可能依赖于关于picoammeter线性,EPMA的一个关键参数的假设.

研究的目的:

• 引入一种新的"恒定k比"方法,用于校准波长分散光谱仪 (WDS) 中的探测器死亡时间.
• 为提供改进的死亡时间表达式和仪器校准的最佳实践.
• 为了使主要,次要和微量元素在远光电流下进行准确的定量分析.

主要方法:

• 测量k比 (强度比) 作为特定排放线的光束电流的函数.
• 利用k比保持恒定与光束电流的原理,以准确的死时间校准.
• 同时比较多个光谱仪的k比,以确保达成共识.

主要成果:

• "恒定k比率"方法提供了准确的死亡时间校准,而不依赖picoammeter线性.
• 该方法可以评估picoammeter的线性,提高EPMA校准可靠性.
• 证明了对主要,次要和微量元素进行定量分析的能力,准确度和灵敏度高.

结论:

• "恒定k比率"方法为WDS中死时校正提供了强大的方法,这对于高精度EPMA至关重要.
• 这种方法通过确保k-ratio共识来促进可靠的实验室间比较.
• 改进的校准使不同元素度的同时分析成为可能,并支持像X射线绘图这样的先进技术.