Electron Microscope Tomography and Single-particle Reconstruction
Atomic Force Microscopy
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Constantinos Hatzoglou1,2, Gérald Da Costa1, Peter Wells3
1INSA Rouen Normandie, CNRS, Groupe de Physique des Matériaux UMR 6634, Univ Rouen Normandie, INSA Rouen Normandie, CNRS, Groupe de Physique des Matériaux UMR 6634, Rouen F-76000, France.
这项研究引入了一种新的,简单的方法来改进原子探头断层扫描 (APT) 数据的3D重建,提高多层材料的深度准确性. 该技术为材料科学应用提供了更容易,更精确的纳米分析.
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