MEMS (S) TEM

Vesna Srot1, Rainer Straubinger2, Felicitas Predel1

  • 1Max Planck Institute for Solid State Research, Stuttgart Center for Electron Microscopy, Stuttgart, Germany.

概括

这项研究引入了一种新的聚焦离子束 (FIB) 方法,用于在微电机系统 (MEMS) 芯片上准备电子显微镜样本. 这种技术使得在扫描传输电子显微镜 (STEM) 内的无人工物现场电气和电热实验成为可能.