Si线

Dong-Hee Lee1, Hwi-Su Kim1, Ki-Woong Park1

  • 1Department of Electronic Materials Engineering, Kwangwoon University, Gwangun-ro 20, Nowon-gu, Seoul 01897, Republic of Korea.

PubMed
概括

使用纳米线 (NW) 通道的人工突触晶体管显示性能增强. 这些NW型设备改善了下一代人工智能 (AI) 半导体的突触行为.