P-N junction
Metal-Semiconductor Junctions
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
DC Battery
Biasing of P-N Junction
Biasing of FET
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André Erpenbeck1, Yaling Ke2, Uri Peskin3
1Department of Physics, University of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48109, USA. aerp@umich.edu.
分子连接在电流下更稳定,当它们的导电能力在解离过程中下降时. 这项研究揭示了一种新的稳定机制,并确定了与性质相关的当前特征,而不是分子特征.
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主要成果:
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