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Zewen Yang1, Lu Zhang1, Tong Liu1
1State Key Laboratory for Manufacturing System Engineering, School of Mechanical Engineering, Xi'an Jiaotong University, Xi'an 710049, China.
本研究引入了一种新的方法,通过优化错误参数来提高LED阵列显微镜图像质量. 该技术提高了2D相位和3D折射率成像的重建精度,即使是未知的LED阵列特征.
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