Bareld Wit1, Georg Gramse2, Stefan Müllegger1

  • 1Institute of Semiconductor and Solid State Physics, Johannes Kepler University Linz, 4040 Linz, Austria.

概括

我们介绍了一种用于校准扫描道显微镜中微波反射测量的新方法. 这种技术使得在GHz频率和冷温度下能够对介电性质进行纳米级成像和光谱.