深度大脑刺激手术后电极的临时外部化是否会导致感染风险更高?

科学领域:

• 神经外科 神经外科
• 传染病流行病学 传染病流行病学
• 医疗器械技术 医疗器械技术

背景情况:

• 深度大脑刺激 (DBS) 是一种手术治疗运动障碍的方法,涉及到电极植入.
• 电极外部化允许测试和记录,但引起了人们对感染风险的担忧.

研究的目的:

• 评估与DBS电极临时外部化相关的感染风险.
• 为了比较DBS手术与没有电极外部化之间的感染率.

主要方法:

• 追溯分析了624次DBS手术,其中266次涉及临时电极外置 (平均6.1天).
• 感染监测包括与神经刺激系统植入相关的所有类型.
• 对于大多数患者来说,至少需要一年的随访时间.

主要成果:

• 总体感染率为3.5% (22/624次手术).
• 电极外部化 (6.0%) 的感染率明显高于没有外部化 (2.0%,p=0.01).
• 在精神疾病 (9.1%),帕金森病 (7.3%),疼痛 (5.7%) 和 dystonia (5.5%) 中观察到的外部化感染率最高.

结论:

• 暂时对DBS电极的外部化与统计学上显著的,尽管很小,但感染风险增加有关.
• 建议仔细考虑电极外置的指示.
• 告知患者可能增加感染风险的信息至关重要.