评估不同内部屏障材料对冠状腺微小泄漏的影响 治疗的牙使用微型计算机断层扫描技术 (玻璃镜研究中的比较)

科学领域:

• 牙周内科医院 牙周内科医院 牙周内科医院
• 恢复性牙科 恢复性牙科
• 牙科材料科学 牙科材料科学

背景情况:

• 内牙衰竭通常与冠状元微泄漏有关,导致内牙后感染.
• 孔内屏障 (IOB) 是一种可行的策略,可以减轻内牙治疗牙的冠状泄漏.

研究的目的:

• 评估三种修复材料的有效性:Ever X Flow,Cention forte和Bio-C Sealer ION作为孔内屏障.
• 通过检查对牙和材料多孔性的内部适应来评估这些屏障对冠状元微泄漏的影响.

主要方法:

• 已经准备好了40个人类下前,并进行了堵塞.
• 三组在冠状3mm内接受了孔内障碍物 (Ever X Flow,Cention forte,Bio-C Sealer ION);对照组没有障碍物.
• 微计算机断层扫描 (μCT) 分析了1000次热循环循环后的3D间隙体积和材料多孔性.

主要成果:

• 与对照组相比,所有测试的孔内屏障材料都显著降低了冠状元微漏 (P < 0.05).
• 在Ever X Flow中,内部间隙体积和孔隙度最低.
• 在对照组和Bio-C Sealer ION之间没有发现显著的性能差异.

结论:

• 孔内障碍物有效地减少了内牙治疗牙的冠状微泄漏.
• 由于其优越的适应性和较低的孔隙性,Ever X Flow作为孔内屏障材料表现出有希望的结果.
• 进一步的研究可能会探索这些材料的长期临床性能.