UV–Vis Spectrometers
IR Spectrometers
您也可能阅读
通过共同作者、期刊和引用图与本文相关的文章。
Tianxiang Dai1, Thaibao Phan1, Evan W Wang1
1Department of Electrical Engineering, Stanford University, Stanford, CA 94305 USA.
这项研究提出了一种用于同时测量穆勒极化和波长的新型成像系统. 这项技术可以为先进的光学计量应用提供精确的薄膜厚度映射.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: