确定高强度脉冲电磁场对释放与损伤相关的分子模式分子的影响

Matej Kranjc1, Tamara Polajžer1, Vitalij Novickij2,3

  • 1Faculty of Electrical Engineering, University of Ljubljana, Trzaska cesta 25, 1000 Ljubljana, Slovenia.

概括

高强度脉冲电磁场 (HI-PEMF) 治疗通过导致损伤相关分子模式 (DAMP) 的有限释放,最小地激活了免疫反应. 这种非侵入性方法显示了基因转移和电化学疗法的潜力,减少了免疫细胞透.