像素化波器阵列用于芯片上的偏振光谱检测

Yuechen Liu1,2, Chao Feng1,2, Siyu Dong1,2,3

  • 1MOE Key Laboratory of Advanced Micro-Structured Materials, Shanghai 200092, China.

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概括

这项研究引入了使用超表面和多层膜的新型芯片上的偏振光谱检测过器阵列. 这些阵列为先进的成像应用提供高光谱分辨率和光学效率.

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