像素化波器阵列用于芯片上的偏振光谱检测
Yuechen Liu1,2, Chao Feng1,2, Siyu Dong1,2,3
1MOE Key Laboratory of Advanced Micro-Structured Materials, Shanghai 200092, China.
Nanomaterials (Basel, Switzerland)
|October 14, 2023
概括
这项研究引入了使用超表面和多层膜的新型芯片上的偏振光谱检测过器阵列. 这些阵列为先进的成像应用提供高光谱分辨率和光学效率.
科学领域:
- 光电学是指光电子产品.
- 纳米光子学 纳米光子学
- 光学工程是指光学工程.
背景情况:
- 在芯片上的多维检测系统对于医学成像和遥感至关重要.
- 现有的过器阵列面临检测尺寸,光学效率和光谱分辨率之间的权衡.
研究的目的:
- 开发新的芯片上集成的偏振光谱检测过器阵列.
- 克服当前过器阵列技术的局限性,以实现增强的光学检测.
主要方法:
- 整合元表面与纳米柱子用于极化调制和多层薄膜.
- 利用超表面衍射角和法布里-佩罗洞用于光谱控制.
- 设计用于TE线性极化 (1350-1550 nm) 的九通道极化光谱过器阵列.
主要成果:
- 实现了10纳米平衡的光谱分辨率.
- 使用无损介电材料,经证明的平均峰值传输效率超过75%.
- 提出了一个CMOS兼容的制造工艺,使用叠加电子光束光刻法.
结论:
- 开发的极化光谱过器阵列提供了高光谱分辨率和光学效率.
- 该技术可以在现场芯片上的偏振光谱检测和体内成像中实现更广泛的应用.
- 这一进步解决了光学检测仪器设计的关键挑战.
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