一个数字双胞胎框架,用于预测压电振动传感器的剩余使用寿命,用灵敏度降解建模

Chengcheng Fu1, Cheng Gao2, Weifang Zhang2

  • 1School of Energy and Power Engineering, Beihang University, Beijing 100191, China.

PubMed
概括

本研究引入了一个数字双胞胎 (DT) 框架,用于预测在高温下运行的压电振动传感器 (PVS) 的剩余使用寿命 (RUL). DT模型显著减少了RUL预测错误,提高了航空航天发动机的维护.

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