,使

A D White1, T A Drouillard1, S Ludwig1

  • 1Lawrence Livermore National Laboratory, Livermore, California 94550, USA.

概括

本研究提出了一种简单的多频旋流方法,以快速估计金属的导电性和厚度. 该技术使用易于获得的设备,与光学测量相比,显示出高精度.