使用飞行时间二次离子质谱仪在水中分子检测和多基物质
Xiao-Ying Yu1, Cuiyun Yang1, Jun Gao1
1Oak Ridge National Laboratory, Materials Science and Technology Division, Oak Ridge, TN, United States.
飞行时间二次离子质谱 (ToF-SIMS) 能够有效地检测环境样本中ppt水平的per-和多基物质 (PFAS). 这种方法提供了高灵敏度和最小的样本准备,用于复杂水矩阵中的PFAS分析.
科学领域:
- 环境化学环境化学
- 分析化学 分析化学
- 质谱测量质量谱测量
背景情况:
- 和多醇基物质 (PFAS) 是持久性环境污染物,需要敏感的检测方法.
- 目前用于PFAS的分析技术可能涉及复杂的样本准备,限制快速分析.
研究的目的:
- 评估飞行时间二次离子质谱 (ToF-SIMS) 用于在环境水样中敏感检测和识别PFAS.
- 为了证明ToF-SIMS的实用性,在最小的样本准备中进行PFAS分析.
主要方法:
- 使用ToF-SIMS对代表性PFAS化合物 (PFOS,PFBA,PFPeA,PFHpA,PFNA) 和真实地下水样本的分析.
- 伪分子离子识别的光谱比较和主要成分分析 (PCA) 用于样本歧视.
- 2D SIMS成像可用于在模拟和真实样本中可视化PFAS分布.
主要成果:
- 在实际现场样本中,ToF-SIMS实现了PFAS每万亿分之一 (ppt) 级检测.
- 具有特征的分子离子和碎片峰值使各种PFAS的敏感识别成为可能.
- PCA有效地区分了真实样本和参考化合物,二维成像显示了PFAS分布.
结论:
- ToF-SIMS是一种可行的技术,用于复杂的环境水样中的PFAS的敏感和特定分析.
- 该方法的优越表面灵敏度和最小的样本准备要求使其适合环境法医分析.
- ToF-SIMS为废水和其他环境矩阵中的PFAS检测提供了高灵敏度,快速的替代方案.
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