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Jingxi Li1,2,3, Xurong Li1,3, Nezih T Yardimci1,3
1Electrical and Computer Engineering Department, University of California, Los Angeles, CA, 90095, USA.
一个新的衍射传感器使用太赫兹波和深度学习来快速检测3D材料中的隐藏缺陷. 这种单像素探测器消除了成像,提供了更快,更有效的非破坏性测试解决方案.
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