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Updated: Jul 12, 2025

09:04
Miniaturized Sample Preparation for Transmission Electron Microscopy
Published on: July 27, 2018
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在精密组装中,使用基于微观视觉的适合度清除的检查技术
Yawei Li1, Yi Luo1,2, Xiaodong Wang1,2
1Key Laboratory for Micro/Nano Technology and System of Liaoning Province, Dalian University of Technology, Dalian 116024, China.
Micromachines
|October 28, 2023
概括
本研究提出了一种用于精密组装中检查微型多截面弧的新方法. 该技术提高了关键光机组件的兴趣区域 (ROI) 提取和检查精度.
科学领域:
- 光学和机械工程的工程.
- 制造和质量控制 制造和质量控制
背景情况:
- 光学机械设备的精密组装需要精确检查微型多截面弧.
- 加工错误导致复杂的变形,使检查和兴趣区域 (ROI) 提取具有挑战性.
- 微观视觉不一致性进一步使特征识别复杂化.
研究的目的:
- 开发一个有效的兴趣区域 (ROI) 提取方法,用于微多截面弧.
- 根据组装合适的要求,提出微型多截面弧的新型检查方法.
- 提高精密组装过程中检查的准确性.
主要方法:
- 一种基于CAD模型的方法,用于粗略定位特征点和连接区域检测,以改进ROI.
- 基于特征点,再次使用CAD模型来确定最终的ROI.
- 实施适用于微型多截面弧的检查方法,考虑组装合适.
主要成果:
- 提出的方法成功地提取了微型多截面弧的感兴趣区域 (ROI).
- 在八段弧和镜子上的实验验证证明了该方法的有效性.
- 该技术显示了在精密组装中提高检查准确性的潜力.
结论:
- 开发的方法提供了一个可靠的解决方案,用于检查微型多截面弧.
- 这种方法解决了加工错误和图像不一致所带来的挑战.
- 这些发现有助于加强光机械设备制造业的质量控制.

