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Rongwo Xu1, Leiming Sun1, Jianhua Ji1
1College of Electronics and Information Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, China.
信息泄露率量化评估光学CDMA窃听通道的物理层安全性,与保密能力不同. 这一指标对于评估不完善的安全系统和窃听者信息丢失至关重要.
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