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Updated: Jul 12, 2025

Surrogate Model Development for Digital Experiments in Welding
Published on: March 28, 2025
Angzhi Fan1, Yu Huang2, Fei Xu3
1Department of Statistics, University of Chicago, Chicago, IL 60637, USA.
本研究介绍了一种机器学习模型,用于使用传感器数据预测半导体检测测量. 长期短期记忆网络有效预测质量指标,改善半导体制造工艺.
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研究的目的:
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主要成果:
结论: