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Updated: Jul 11, 2025
06:24
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
Published on: September 13, 2020
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从分散中的 (纳米) 颗粒中制备原子探头,使用 (二) 电泳和电
Nora Vorlaufer1, Jan Josten1, Simon Carl2
1Institute I, Materials Science & Engineering Department, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, Erlangen, Germany.
Microscopy research and technique
|November 3, 2023
概括
我们开发了一种新的工作流程,用于从纳米颗粒中准备原子探头断层扫描样本. 这种方法使冷制备和粒子形态和元素分布的高吞吐量分析成为可能.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 纳米技术纳米技术
- 分析化学 分析化学
背景情况:
- 粒子的行为是由化学结构和形态学决定的.
- 原子探头断层扫描 (APT) 是一种强大的技术,用于在原子尺度上表征材料.
- 准备纳米粒子样本用于APT的现有方法通常耗时且缺乏广泛适用性.
研究的目的:
- 引入一种新的,高效的工作流程,用于从纳米粒子中准备原子探头样本.
- 为了使纳米颗粒的冷制备用于APT分析,保持它们的原始状态.
- 为了实现高吞吐量,为例行分析准备样本.
主要方法:
- 结合介电泳和电沉积,将纳米颗粒放置在样本的尖端附近.
- 在制备过程中使用冷阶段,以防止 (Ga) 纳米粒子化.
- 开发一个工作流程,避免聚焦离子束 (FIB) 提升程序.
主要成果:
- 成功地从Ga纳米粒子 (50nm到2μm) 制备了APT标本,具有近尖的几何形状.
- 实现了APT尖端的高准备吞吐量和机械稳定性.
- 启用了稳定的APT测量,具有较低的断裂率.
- 在GaPt模型SCALMS中对表面和散装元素分布的简化表征.
结论:
- 开发的工作流提供了一种简单,快速和高通量方法,用于为APT准备纳米粒子样本.
- 在样本制备过程中,冷制备对于保持纳米粒子的完整性至关重要.
- 这种技术显著增强了APT在描述纳米粒子行为方面的潜力.
