基于光二极管的超快电子显微镜的零时测定
S T Kempers1, S Borrelli1, E R Kieft2
1Eindhoven University of Technology, Coherence and Quantum Technology, 5600 MB Eindhoven, the Netherlands.
Structural dynamics (Melville, N.Y.)
|November 9, 2023
概括
我们开发了一种简单的光二极管方法,以超快电子显微镜精确测量零时. 这种技术确保了电子和激光脉冲在探头实验中的准确时间重叠.
科学领域:
- 超快电子显微镜的超快电子显微镜
- 五秒激光物理 五秒激光物理
- 材料科学是一种材料科学.
背景情况:
- 在超快电子显微镜 (UEM) 中的探头实验需要在激发 () 和探头 (探头) 脉冲之间精确的时间重叠.
- 准确确定零时 (t0) 对于解决材料中的超快动态至关重要.
- 现有的t0确定方法可能是复杂的或昂贵的.
研究的目的:
- 提出一种基于光二极管的成本效益高,用户友好的方法,用于在UEM中测量零时.
- 为了使单电子脉冲与秒激光脉冲的精确时间对齐.
- 为实现微米和皮秒时空分辨率奠定基础.
主要方法:
- 在UEM的样本持有器中集成的光电极的开发.
- 使用光二极管检测电子和激光脉冲之间的时间重叠.
- 开发的对齐方法的时间分辨率的表征.
主要成果:
- 一个基于光二极管的对齐装置成功地实现了零时测量.
- 最初的设备实现了24皮秒 (ps) 的时间分辨率.
- 光二极管的设计被确定为时间分辨率的限制因素.
结论:
- 光二极管方法提供了一种实用的方法,用于在UEM中实现时间零对齐.
- 未来使用容量较低的光二极管的改进将提高时间和空间分辨率.
- 这种技术为UEM的先进时空调查铺平了道路.
