Carrier Generation and Recombination
Small-Signal Analysis of MOSFET Amplifiers
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Kuan-Chang Chang1, Xibei Feng1, Huangbai Liu1
1School of Electronic and Computer Engineering, Peking University Shenzhen Graduate School Shenzhen 518055 China lilei@pkusz.edu.cn.
这项研究引入了一种新的计算方法,以准确测量化 (GaN) 高电子移动性晶体管 (HEMT) 中的电子移动性. 该技术克服了传统方法的局限性,提供了一种更可靠的方法来确定设备性能.
科学领域:
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主要成果:
结论: