用多段漂移探测器重建复合样本的三维元素对元素表面地形
Ebrahim Gholami Hatam1, Primož Pelicon2, Esther Punzón-Quijorna2
1Department of Physics, Faculty of Science, Malayer University, 4-km of Arak road, Postal code 65741-84621, Malayer, Iran.
概括
研究人员开发了一种使用微光束质子诱导X射线发射 (micro-PIXE) 的新3D元素表面拓方法. 这项技术重建了材料科学,文化遗产和微电子的表面细节.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 表面科学是一门学科.
- 分析化学 分析化学
背景情况:
- 了解元素表面地形对于材料的表征至关重要.
- 对表面,接口和基板的微观分析为各种应用提供了信息.
研究的目的:
- 展示一个用于重建三维 (3D) 元素表面拓的一般方法.
- 为了利用微束质子诱导的X射线发射 (micro-PIXE) 用一个特定的探测器为此目的.
主要方法:
- 使用多通道光谱仪获取二维元素度图.
- 根据离子-物质相互作用模型重建局部倾斜角.
- 计算地形梯度元件并执行数值集成.
主要成果:
- 成功测试了一种用于渐变元件获取的通用算法.
- 重建了不同微观结构尺度的化合物合金的3D表面地形.
- 使用四段探测器配置验证了该方法.
结论:
- 展示的微PIXE方法可以实现3D元素表面地形重建.
- 该方法适用于微尺度表面/接口粗度分析.
- 潜在的应用包括文化遗产,聚变材料和微电子.
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