通过应用漂移纠正相位偏移离轴电子全息学来重建Angstrom分辨率的输出波
1Institute of Materials Physics, University of Goettingen, Friedrich-Hund-Platz 1, 37077, Goettingen, Germany.
Ultramicroscopy
|November 12, 2023
概括
先进的移相电子全息技术克服了高分辨率成像的漂移限制. 这种技术在斯特罗姆水平上获得可靠的相位信息,提高了电子显微镜的能力.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 物理 物理学 物理
- 电子显微镜电子显微镜
背景情况:
- 移相电子全息提供高相位灵敏度,但受到样本和双晶体漂移的限制.
- 标准的离轴全息面临着边缘间距和可见性之间的权衡.
研究的目的:
- 开发用于相位移电子全息的先进漂移校正方案.
- 为了在传输电子显微镜 (TEM) 中获得可靠的,高分辨率的相位信息.
主要方法:
- 在全息系列中使用样本-真空接口实现了一个漂移校正方案.
- 采用单双晶体,适度电压,用于安格斯特罗姆边缘间距.
- 使用多切片图像模拟与冷格子近似的验证结果.
主要成果:
- 在1年信息极限时获得可靠的相位信息高达2π/452.
- 在样本的实验数据和模拟之间表现出了很好的一致性.
- 该方法适用于各种TEM仪器,包括用于实地研究的仪器.
结论:
- 先进的漂移校正方案显著提高了相变电子全息的可靠性.
- 这种技术可以在各种TEM应用中实现高分辨率的轴外全息.
- 为获取,校准和重建提供了一个软件包.


