一种相位检索方法,用于基于π相位移边缘的高反射率表面3D形状测量
1School of Instrumentation and Optoelectronic Engineering, Beihang University, Beijing 100191, China.
Sensors (Basel, Switzerland)
|November 14, 2023
概括
这项研究引入了一种使用π相位移边缘进行高反射率表面3D形状测量的新相位检索方法. 该技术可以减少因过度曝光引起的误差,提高测量精度.
科学领域:
- 光学和光子学 在光学和光子学.
- 3D计量学 3D计量学
- 计算机视觉 计算机视觉
背景情况:
- 边缘投影轮计 (FPP) 对于3D重建至关重要,但由于过度曝光和和,它与高反射率表面扎.
- 在FPP中图像和导致错误的强度值,导致显著的相位和测量错误.
研究的目的:
- 开发一种改进的相位检索方法,使用FPP精确测量高反射表面的3D形状.
- 为了减轻FPP系统中图像和引起的相位检索错误.
主要方法:
- 提出了一种使用π相位移边缘的新型相位检索方法.
- 该方法使用八个投影图像:三种常规相位移动模式,一种相位解封约束模式和四种补充的π相位移动模式.
- 来自常规模式的和像素被补充模式的不和像素取代,以纠正相位错误.
主要成果:
- 拟议的方法通过智能组合边缘模式,有效地抑制相位检索错误.
- 提供了16个替代案例的分析和未包装阶段的计算方法.
- 实验结果表明,与现有方法相比,高反射表面的性能优于现有方法.
结论:
- 这种新方法通过减少预测边缘数和结合相位解封约束来提高立体相位解封 (SPU) 的准确性.
- 这种方法为FPP中镜面表面带来的3D形状测量挑战提供了强大的解决方案.
