暗场和定向暗场在具有随机面罩调制的低相干性X射线源上:通过SAXS异构度测量进行验证

Optics letters
|November 15, 2023
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概括

现在可以使用新的X射线成像技术,如相对比和暗场成像. 一种简单的单面膜方法使得这些先进的成像模式能够在实验室环境中使用传统的X射线管.