U-Net

Matthew J Patrick1, James K Eckstein2, Javier R Lopez3

  • 1Department of Applied Physics and Applied Mathematics, Columbia University, 200 S.W. Mudd Building, 500 W. 120 Street, New York, NY 10027, USA.

概括

本研究介绍了一种机器学习方法,用于在电子显微镜图像中准确检测粒度边界. 这种自动化方法克服了手动分析的挑战,改善了微观结构的量化.

相关概念视频