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Irdi Murataj1,2, Angelo Angelini1, Eleonora Cara1
1Advanced Materials and Life Science Division, Istituto Nazionale Ricerca Metrologica (INRiM), Strada delle Cacce 91, 10135, Torino, Italy.
这项研究引入了一种新的混合计量方法,使用X射线技术精确测量纳米级介电材料的折射率. 这推动了具有量身定制光学特性的功能超表面的制造.
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