矿单像素探测器用于复杂环境中的双色超表面成像识别
Jiahao Xiong1, Zhi-Hong Zhang1,2, Zile Li3,4
1Institute of Applied Physics and Materials Engineering, University of Macau, Taipa, Macao SAR, China.
Light, science & applications
|November 26, 2023
概括
我们开发了一种新的双色超表面和双层集成矿单像素探测器 (DIP-SPD),以进行高效的多维图像存储和检索. 这种无过系统准确地重建了彩色图像,即使在杂的环境中.
科学领域:
- 光学和光子学 在光学和光子学.
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 纳米技术纳米技术
背景情况:
- 超表面通过调节光特性,为多维光学数据存储提供了潜力.
- 紧而高效的探测器用于检索这些数据,特别是在复杂的环境中,仍然是一个重大挑战.
研究的目的:
- 展示一种新的多维图像存储和检索系统,使用双颜色的超表面和专用探测器.
- 在复杂环境中克服现有探测器在紧性,效率和强度方面的局限性.
主要方法:
- 用于存储多维图像数据的双色元表面的制造.
- 开发使用FAPbBr2.4I0.6和FAPbI3膜的双层集成矿单像素探测器 (DIP-SPD).
- 单回合测量过程用于数据检索,即使存在散射介质或背景噪声.
主要成果:
- 使用开发的系统成功展示了多维彩色图像的存储和检索.
- 没有过器的DIP-SPD在一次测量中准确地重建了超表面的图像.
- 该系统表现出对散射介质和强大的背景噪声的稳定性.
结论:
- 开发的双色超表面和DIP-SPD提供了一个紧的,没有过器的,噪声强大的解决方案,用于彩色的图像提取.
- 这项工作推进了矿类带隙调节材料在彩色成像和光学数据存储中的应用.
