Hojin Kim1,2, Aaron P Esser-Kahn1, Stuart J Rowan1,3,4

  • 1Pritzker School of Molecular Engineering, University of Chicago, Chicago, IL 60637.

概括

研究人员使用压电纳米粒子来检测剪切加厚悬浮中的摩擦接触. 这种测量电导率的新方法可以实时揭示微力学和应力激活摩擦.

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