高频率心房发作在分层血栓栓塞风险中的作用:多重切断诊断元分析

科学领域:

• 心脏病学 心脏病学
• 电子生理学 电子生理学
• 医疗器械 医疗器械

背景情况:

• 心房高频发作 (AHREs) 经常被心脏植入式电子设备 (CIED) 检测出来.
• 临床指南缺乏对AHREs的普遍定义和预测血栓栓塞事件的明确时间值.
• 这种模糊性需要研究来定义临床上显著的AHREs.

研究的目的:

• 确定通过心脏植入式电子设备 (CIED) 检测到的临床显著心房高频发作 (AHREs) 的最佳时间值.
• 通过对诊断测试准确性的元分析,分析AHRE持续时间和随后的血栓栓塞事件之间的关联.

主要方法:

• 在PubMed/MEDLINE和EMBASE进行了系统的文献搜索,寻找在CIED患者中报告AHREs和血栓栓塞事件的研究.
• 对23项研究进行了随机效应诊断测试准确度元分析,分析了最长的单个AHREs和AHRE负担.
• 进行了敏感性分析,排除了先前心房的患者,只包括了高质量的研究.

主要成果:

• 对于最长的单个AHRE,确定了0.07分钟的最佳持续时间 (灵敏度为65.4%,特异性为52.7%,AUC-SROC为0.62).
• 对于AHRE负担,最佳切断时间为1.4分钟 (灵敏度为58.2%,特异性为57.5%,AUC-SROC为0.60).
• 敏感性分析也得出了类似的结果,加强了主要的发现.

结论:

• 在患有心脏植入式电子设备 (CIED) 的患者中,任何心房高频发作 (AHRE) 的存在,而不是特定的持续时间,与血栓栓塞风险略有增加有关.
• 应考虑AHREs作为一个额外的因素,在CIED患者对血栓栓塞风险的个性化评估.