在不同患者中,通过脑电图记录的第一个间接性形放电的延迟时间
Chenyu Liu1, Yi Qi1, Liang Wang1
1Department of Neurology, The First Affiliated Hospital of Xi'an Jiaotong University, 277 West Yanta Road, Xi'an, Shaanxi, 710061, China.
BMC neurology
|December 1, 2023
概括
在24小时EEG监测期间,在一般性中,间接性形放电 (IED) 出现的速度比焦点发作的更快. 患有晚发性或不频发性的患者可能需要扩展监测以检测IED.
科学领域:
- 神经学 神经学
- 临床神经生理学 临床神经生理学
背景情况:
- 在脑电图 (EEG) 上的间接性发性放电 (IED) 对于诊断至关重要.
- 延长EEG记录时间可以增加捕获IED的可能性.
研究的目的:
- 在各种患者群体中确定首次IED的时间.
- 调查影响IED检测延迟的因素.
主要方法:
- 追溯分析241名患者在没有抗药物的情况下接受24小时视频EEG监测 (VEM).
- 收集的临床数据包括年龄,发作发作,发作频率和自上次发作以来的时间.
- 从VEM开始到第一个确定的IED计算的延迟.
主要成果:
- 92.1%的患者在VEM24小时内检测到IED.
- 与焦点发作 (63分钟) 相比,一般性 (30分钟) 的中位延迟到第一个IED显着更短.
- IED 潜伏时间与发作开始的年龄和自上次发作以来的间隔相关,但不是发作频率,性别或年龄.
结论:
- 24小时VEM对于大多数患者的IED检测是有效的.
- 一般性显示出IED的出现速度比焦点发作的更快.
- 晚发性患者或那些最近没有发作的患者可能需要更长时间的EEG监测.
更多相关视频
10:22Interictal High Frequency Oscillations Detected with Simultaneous Magnetoencephalography and Electroencephalography as Biomarker of Pediatric Epilepsy
Published on: December 6, 2016
20.4K
10:23Equipment Setup and Artifact Removal for Simultaneous Electroencephalogram and Functional Magnetic Resonance Imaging for Clinical Review in Epilepsy
Published on: June 23, 2023
2.0K
