"Depo-all-around":一种基于FIB的新TEM样本准备技术,用于固态电池复合材料和其他松散结合样本
Thomas Demuth1, Till Fuchs2, Andreas Beyer1
1Materials Science Center and Faculty of Physics, Philipps University Marburg, Hans-Meerweinstraße 6, Marburg 35043, Germany.
Ultramicroscopy
|December 7, 2023
概括
我们开发了一种新的方法来准备易碎的复合样本用于电子显微镜. 该技术使用保护框架,防止样品在聚焦离子束准备过程中断裂,以便更好地进行接口分析.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 电池技术 电池技术
- 电子显微镜电子显微镜
背景情况:
- 接口现象对于固态电池性能至关重要.
- 传输电子显微镜 (TEM) 提供了对这些接口的原子级洞察力.
- 传统的聚焦离子束 (FIB) 样本准备对于松散结合的复合材料是很困难的.
研究的目的:
- 介绍一个新的FIB样品制备方法,用于松散结合复合材料.
- 为了实现固态电池界面的高分辨率 (S) TEM成像.
- 为了克服在FIB削过程中与样品完整性相关的挑战.
主要方法:
- 使用聚焦离子束 (FIB) 系统与气体注射系统.
- 开发了一种新的样品制备技术,涉及沉积层来创建一个保护框架.
- 应用该方法来准备用于 (S) TEM分析的复合样本.
主要成果:
- 成功地准备了脆弱的复合样品,而没有分解.
- 证明了获得接口高分辨率 (S) TEM图像的能力.
- 验证了保护框架在保持样品完整性的有效性.
结论:
- 拟议的FIB制备技术有效地保存了松散结合的复合样品.
- 这种方法增强了对固态电池和其他复合材料接口的研究.
- 该技术为显微镜中具有挑战性的样本准备提供了强大的解决方案.


