,PBO

Hong-Li Yang1,2, Ming Zhou1,2, Bing Li1

  • 1State Key Laboratory of Polymer Physics and Chemistry, Changchun Institute of Applied Chemistry, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130022, China.

PubMed
概括

这项研究模拟了高性能聚合物晶体的故障应激,如聚乙二甲胺 (PPTA) 和聚乙二甲胺 (PBIA),在不同的条件下. 结果显示,故障压力与温度和应变率相关,键位对齐影响了故障.