对多相材料的背散射SEM图像进行细分性评估
Manolis Chatzigeorgiou1, Vassilios Constantoudis2, Marios Katsiotis3
1Institute of Nanoscience and Nanotechnology, National Centre for Scientific Research "Demokritos", Patriarchou Grigoriou E' & Neapoleos Str., Agia Paraskevi Attikis, Greece; School of Chemical Engineering, National Technical University of Athens, 9 Iroon Polytechniou Street, Athens, Zografou 15780, Greece.
Ultramicroscopy
|December 8, 2023
概括
一个新的细分性指数 (SI) 量化了电子显微镜图像可以被细分的精度. 该索引指导图像采集,以改进材料相组合分析,这对于材料科学应用至关重要.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 图像分析 图像分析
- 电子显微镜电子显微镜
背景情况:
- 电子显微镜图像的细分对于定量材料分析至关重要.
- 背散射电子 (BSE) 图像提供了多相材料中的相组合数据.
- 精确的细分是至关重要的,因为相位组成会影响材料特性.
研究的目的:
- 引入对BSE图像进行细分的概念.
- 开发一个定量指数 (细分性指数,SI) 来衡量这一细分性.
- 展示SI如何优化图像采集以提高细分精度.
主要方法:
- 提出了回散电子 (BSE) 图像的细分性概念.
- 设计了一个细分性指数 (SI),将修改后的费舍尔歧视比率和第二个Minkowski函数结合起来.
- 通过使用合成BSE图像与受控阶段分布和直方图来验证SI.
- 将SI应用于普通波特兰水泥 (OPC) 的真实合成BSE图像.
主要成果:
- 细分性指数 (SI) 有效量化了BSE图像的细分性.
- SI成功指导了选择最佳图像采集设置.
- 验证表明,较高的SI值与更准确的细分结果相关.
- 在优化对OPC料等现实材料的细分方面,SI证明是有用的.
结论:
- 拟议的细分性指数 (SI) 是评估BSE图像细分性的一个有价值的工具.
- SI可以指导图像采集,以确保高分段精度.
- 这种方法提高了材料科学中定量阶段分析的可靠性.
