在芯片上的系统设备中快速观察分散曲线

科学领域:

• 光学和光子学 在光学和光子学.
• 材料科学 材料科学 材料科学
• 纳米技术纳米技术

背景情况:

• 描述光物质相互作用对于开发先进光学设备至关重要.
• 现有的观测微观结构的方法可能耗时且具有破坏性.
• 需要快速,非破坏性的技术来分析微观结构的光学特性.

研究的目的:

• 开发一种快速检测仪器,用于描述光物质相互作用.
• 为了实现微结构的分散曲线的实时,非破坏性观察.
• 为了促进新的平面光子芯片应用的设计和处理.

主要方法:

• 使用传统的镜反射与格子散射相结合.
• 可同时进行多波长和多角度反射率测量.
• 具有避免机械扫描以快速获取数据的设计.

主要成果:

• 该仪器提供实时的,分散曲线的非破坏性观测.
• 它支持广泛的光谱和角度范围的同时测量.
• 该系统是集成的,可重复使用的,易于微型化.

结论:

• 开发的仪器为分析微观结构提供了强大的工具.
• 它加速了新型光子设备的设计和制造.
• 该技术增强了在微系统中进行光谱分析和动态监测的能力.