用电子束和X射线照射的土豆粉细分子结构和消化能力的变化

科学领域:

• 食品科学 食品科学 食品科学
• 生物化学 生物化学
• 材料科学 材料科学 材料科学

背景情况:

• 粉的消化能力受其微细结构的影响.
• 了解辐射如何影响粉细结构和消化能力对于食品应用至关重要.

研究的目的:

• 为了研究电子束和X射线辐射对土豆粉的细结构和消化能力的影响.
• 阐明结构修改与粉消化能力的变化之间的关系.

主要方法:

• 分析内部结构,分子量,链长分布,螺旋结构,状结构和碎形结构.
• 使用化酶攻击评估粉消化能力.
• 应用皮尔森相关性矩阵进行结果验证.

主要成果:

• 辐射破坏了粉的内部结构,增加了孔隙,降解了粉链,减少了分子重量.
• 双螺旋含量,叶片厚度和峰值面积增加,表明氨基蛋白重组和更高的结构秩序.
• 保护的甘氨酸链接增强了对酶的抵抗力,增加了抗消化能力.
• 与电子束辐射相比,X射线辐射显示出抗消化能力的更大增加.

结论:

• 电子束和X射线辐射显著改变了土豆粉的微细结构,导致对酶消化的抵抗性增加.
• 观察到的结构变化,包括增加的螺旋和状结构和受保护的甘油酸结合,有助于增强抗消化性.
• 在修改粉细质结构和提高其抗消化性方面,X射线辐射比电子束辐射更有效.