在FEC后,对具有模式依赖性损失的光学SDM系统进行性能评估

概括

空间分割复杂化 (SDM) 系统中的模式依赖性损失需要先进的前向错误校正 (FEC). 在每个模式中独立应用低密度平价检查 (LDPC) FEC,可显著提高比特错误率 (BER) 性能.

相关概念视频