Phase Contrast and Differential Interference Contrast Microscopy
Electronic Distance Measuring Instruments
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Daodang Wang1,2, Xiangyu Fu1, Ping Xu1,3
1College of Metrology and Measurement Engineering, China Jiliang University, Hangzhou 310018, China.
一个新的紧型干扰仪同时测量表面形状和粗度. 这种双模式系统简化了光学制造计量技术,以提高表面特征.
科学领域:
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研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: