使用固态探测器和单旋旋转技术进行半值层测量,在螺旋计算断层扫描中使用和不使用锡过器时使用带孔的单旋转技术
Atsushi Fukuda1, Nao Ichikawa2, Takuma Hayashi3
1Department of Radiological Sciences, School of Health Sciences, Fukushima Medical University, 10-6 Sakaemachi, Fukushima, Fukushima, 960-1295, Japan. ntoki@blue.plala.or.jp.
固态探测器 (SSD) 可以使用计算机断层扫描 (CT) 测量半值层 (HVL),而无需锡过器. 虽然有效,但校准准确性需要改进用于用锡过器进行测量,特别是在某些SSD模型中.
科学领域:
- 医学物理 医学物理
- 放射性成像学成像学
- 辐射检测 辐射检测 辐射检测
背景情况:
- 准确的半值层 (HVL) 测量对于辐射保护和诊断成像质量至关重要.
- 计算机断层扫描 (CT) 系统需要精确的校准,包括HVL的确定,以保持一致的性能.
- 固态探测器 (SSD) 在探测器效率和辐射测量空间分辨率方面具有潜在的优势.
研究的目的:
- 评估使用固态探测器 (SSD) 与聚合器在计算机断层 (CT) 中进行半值层 (HVL) 测量的可行性.
- 为了比较从三个不同的SSD获得的HVL测量与已建立的单旋转技术 (SRTLA).
- 为了评估SSD在HVL测量中的性能,在各种管电压中使用和不使用锡器.
主要方法:
- 使用螺旋CT进行HVL测量,测量管电压范围 (70-140kV) 有或无锡过器.
- 三种类型的SSD (AGMS-DM+,X2 R/F传感器,黑色Piranha) 与一个合器进行测量.
- 使用电离室的孔单旋转技术 (SRTLA) 作为HVL确定的参考方法.
主要成果:
- 固态硬盘和SRTLA之间的最大HVL差异处于可接受的范围内,表明没有锡镜的良好协议.
- AGMS-DM +,X2 R / F传感器和黑色PiranhaSSD显示了与SRTLA相似的HVL测量.
- 使用X2 R/F传感器可以使用锡波器进行准确的HVL测量,但对于其他SSD需要进一步的校准改进.
结论:
- 集成到聚合器中的SSD对于CT中的HVL测量是可行的,特别是在没有锡过器的情况下.
- X2 R/F 传感器对使用锡过的HVL 测量有很大的希望,尽管校准需要改进.
- 对优化SSD校准进行进一步的研究是有必要的,以提高所有模型在不同过条件下的精度.
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