MAPbBr3 访,使

Hyojung Kim1,2,3, Joo Sung Kim1, Jaeho Choi1

  • 1Department of Materials Science and Engineering Seoul National University, Seoul 08826, Republic of Korea.

概括

这项研究增强了化 PeroVskite 电阻随机访问记忆 (ReRAM) 的稳定性. 添加TPBI可以提高耐用性到1000个循环和保留时间,克服ReRAM设备的关键限制.