MAPbBr3 基于化矿的电阻随机访问记忆,使用电子传输层进行长耐久周期和保留时间
Hyojung Kim1,2,3, Joo Sung Kim1, Jaeho Choi1
1Department of Materials Science and Engineering Seoul National University, Seoul 08826, Republic of Korea.
ACS applied materials & interfaces
|January 3, 2024
概括
这项研究增强了化 PeroVskite 电阻随机访问记忆 (ReRAM) 的稳定性. 添加TPBI可以提高耐用性到1000个循环和保留时间,克服ReRAM设备的关键限制.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 固态物理 固态物理
- 设备工程 设备工程
背景情况:
- 电阻式随机访问存储器 (ReRAM) 显示出数据存储的前景,因为它具有高的开启/关闭比率和低的操作电压.
- 化烯石具有优良的机械性能,但在ReRAM应用中稳定性和可靠性不佳.
- 耐力和保留时间是限制基于矿的内存设备的实际使用的关键指标.
研究的目的:
- 为了研究MAPbBr3矿对双极电阻切换记忆的潜力.
- 为了提高基于MAPbBr3的ReRAM设备的稳定性和可靠性.
- 探索电子转移材料在提高设备性能方面的作用.
主要方法:
- 使用低温全溶液工艺用MAPbBr3矿制造一个电阻开关记忆装置.
- 在MAPbBr3切换层上集成TPBI (2,2',2′′-(1,3,5-benzinetriyl) -tris(1-phenyl-1-H-benzimidazole)) 作为电子转移材料.
- 通过连续电压脉冲测试,对设备性能进行表征,包括耐久性,保留时间和开/关比.
主要成果:
- 带有TPBI的MAPbBr3装置显著提高了耐力,达到大约1000个周期,而没有TPBI的装置则达到90个周期.
- 集成设备保持了高的ON/OFF比率,超过10^7.7.
- 使用TPBI增强器件实现了超过3×10^3秒的保留时间.
结论:
- 在基于MAPbBr3的ReRAM中,TPBI在SET/RESET过程中有效地调节了导线的形成和断裂.
- 将TPBI作为电子转移材料的结合大大提高了化 Perovskite 存储器的耐用性和保留性.
- 电子转移材料显示出开发稳定可靠的化物矿记忆系统的巨大潜力.


