使用CBCT对单边唇裂患者的上半圆通道的评估

科学领域:

• 耳鼻喉科 耳鼻喉科 耳鼻喉科
• 头骨面部异常 头骨面部异常
• 放射学 放射学是一门学科.

背景情况:

• 单侧唇裂 (CL/P) 是一种常见的先天性疾病,影响面部发育.
• 上半圆通道 (SSC) 是内耳平衡系统的关键组成部分,可能会受到面异常的影响.
• 对CL/P患者骨的放射性评估对于了解潜在的内耳结构变化至关重要.

研究的目的:

• 评估单边唇裂 (CL/P) 患者上半圆通道 (SSC) 的骨厚度和放射性图案.
• 为了比较这些发现之间的裂侧,非裂侧,和健康的对照.

主要方法:

• 分析了84名单边CL/P患者和168名对照者的形束计算断层扫描 (CBCT) 扫描.
• 分类SSC的放射性模式 (衰变,纸质,正常,气动化,厚).
• 在裂侧 (CS-CL/P),非裂侧 (NCS-CL/P) 和对照组测量了最低SSC骨厚.

主要成果:

• 与NCS-CL/P和对照组相比,CS-CL/P组表现出较高的上半圆通道听力衰竭 (SSCD) 患病率.
• 脱色和纸质类型在CS-CL/P组比对照组更常见.
• 与NCS-CL/P和对照组相比,CS-CL/P组的SSC厚度明显较低.

结论:

• 在CL/P组中显著减少SSC厚度表明潜在的结构脆弱性.
• 脱色和纸质性SSC类型的发病率增加表明,裂的存在可能会导致这些异常.
• 这些发现强调了对CL/P患者内耳进行放射性评估的重要性.