系统自动评估下膜神经损伤的可能性

Ziyang Gong1, Weikang Feng2, Xin Su2

  • 1Department of Computer Engineering, Gachon University, Seongnam-si, 13120, Republic of Korea.

PubMed
概括

这项研究引入了一个自动化系统,使用全景放射图来预测下膜神经 (IAN) 损伤风险在下第三 (MM3) 提取之前. 该系统提高了细分的准确性,并实现了比现有的深度学习模型更高的分类性能.